Técnica de análisis superficial conocida como XPS ó ESCA. Mide la energía de enlace (eV) de los electrones que se encuentran en los primeros 10 nm de la superficie del material. Es posible identificar cualquier elemento, excepto H y He. Tiene fuente monocromática de Al, de 1486.7 eV de energía. Se puede analizar cualquier material en estado sólido.
División:
División de Ciencias Básicas
Departamento:
Departamento de Química
Ubicación:
Modulo Y, planta baja
Responsable:
Dr. Eduardo Mendizabal Mijares
Correo:
Teléfono:
(33) 13 78 59 00 ext. 27697